電子信息產(chǎn)業(yè)用鈦靶材主要應(yīng)用于集成電路、平面顯示器、磁存儲(chǔ)器等領(lǐng)域:在半導(dǎo)體制造中用于制作精密線路網(wǎng),需純度大于 99.995%且對(duì)尺寸精度、晶粒大小要求嚴(yán)苛;在液晶顯示器制造中通過 A1-Ti 等工藝發(fā)揮作用,純度要求大于 99.9%,還可用于硬盤磁層等場(chǎng)景以提升穩(wěn)定性與耐磨性。
鈦靶材性能要求與制備工藝具有專業(yè)性:需具備高純度(減少薄膜雜質(zhì)、優(yōu)化性能)、均勻細(xì)晶組織結(jié)構(gòu)(確保濺射速率與薄膜厚度均勻性)、良好導(dǎo)熱性(應(yīng)對(duì)濺射過程的高熱量)及高強(qiáng)度與低密度平衡特性;制備流程包括以電子束熔煉或真空自耗電弧爐熔煉提純?cè)牧希俳?jīng)熱機(jī)械變形控制微觀組織、機(jī)加工、綁定等工序制成成品,凱澤金屬作為靶材制品國(guó)內(nèi)專業(yè)供應(yīng)商,對(duì)于電子信息產(chǎn)業(yè)用鈦靶材的制備工藝和關(guān)鍵技術(shù),有多年的沉淀,以下為電子信息產(chǎn)業(yè)用鈦靶材的多維數(shù)據(jù)描述:
1. 定義與核心戰(zhàn)略價(jià)值
類別 | 描述 |
定義 | 高純度鈦(≥99.995%)制成的平面/旋轉(zhuǎn)靶材,用于半導(dǎo)體、顯示面板、光伏等領(lǐng)域的物理氣相沉積(PVD)鍍膜工藝 |
戰(zhàn)略定位 | 芯片制造7nm以下制程關(guān)鍵材料,國(guó)產(chǎn)化替代"卡脖子"環(huán)節(jié)(2022年中國(guó)進(jìn)口依賴度>85%) |
2. 化學(xué)成分與純度等級(jí)
等級(jí) | 純度 | 關(guān)鍵雜質(zhì)限值(ppm) | 適用領(lǐng)域 |
4N5 | 99.995% | Fe≤10, O≤50, C≤20 | 顯示面板(OLED金屬電極) |
5N | 99.999% | Fe≤1, O≤10, U/Th≤0.01 | 半導(dǎo)體(Cu互連阻擋層) |
6N | 99.9999% | 總雜質(zhì)<1(Al/Ni/Cr≤0.1) | EUV光刻掩模版 |
3. 物理性能與微觀結(jié)構(gòu)要求
參數(shù) | 數(shù)值 | 技術(shù)突破 |
密度 | 4.506 g/cm3 | 梯度密度靶材(表面4.3→內(nèi)部4.5)降低應(yīng)力 |
晶粒尺寸 | 20-50μm(常規(guī))→ 納米孿晶(<100nm) | 納米孿晶鈦靶濺射速率↑30% |
取向分布 | 隨機(jī)→ {0001}基面織構(gòu)(XRD強(qiáng)度比>5) | 提高薄膜(002)取向一致性 |
電阻率 | 42 μΩ·cm(塊體)→ 15 μΩ·cm(鍍膜) | 超低阻鈦氮化物(TiN<50 μΩ·cm) |

4. 濺射性能關(guān)鍵指標(biāo)
參數(shù) | 標(biāo)準(zhǔn)要求 | 前沿水平 |
濺射速率(300mm晶圓) | 200 nm/min@DC 10kW | 350 nm/min(高功率脈沖磁控濺射) |
膜厚均勻性(300mm) | ±5% →±1.8%(動(dòng)態(tài)掃描濺射) |
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顆粒缺陷密度 | ≤0.1個(gè)/cm2(28nm節(jié)點(diǎn))→<0.03個(gè)/cm2(3nm節(jié)點(diǎn)) |
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靶材利用率 | 常規(guī)30-40% →旋轉(zhuǎn)靶75%↑(自旋磁場(chǎng)優(yōu)化) |
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5. 制造工藝革命性突破
工藝 | 傳統(tǒng)技術(shù) | 前沿技術(shù) |
熔煉提純 | 電子束熔煉(EBM) | 等離子體冷床熔煉(PAM)+ 區(qū)域懸浮精煉(ZFR),雜質(zhì)O降至5ppm |
塑性成型 | 熱軋+退火 | 等徑角擠壓(ECAP),晶粒細(xì)化至200nm,織構(gòu)可控 |
焊接技術(shù) | 釬焊(Cu背板) | 冷金屬過渡(CMT)焊接,熱影響區(qū)<50μm(防止晶粒粗化) |
表面處理 | 機(jī)械拋光(Ra 0.8μm) | 等離子體電解拋光(PEP),Ra≤0.05μm,消除亞表層損傷 |
6. 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)與型材規(guī)格
標(biāo)準(zhǔn)體系 | 關(guān)鍵參數(shù) | 中國(guó)突破 |
SEMI F47(半導(dǎo)體級(jí)) | 純度≥5N,晶粒尺寸偏差≤10% | 中材高新實(shí)現(xiàn)6N級(jí)鈦靶量產(chǎn) |
GB/T 31311-2022 | 新增旋轉(zhuǎn)靶動(dòng)態(tài)平衡等級(jí)G1.0(<0.5g·mm/kg) | 有研新材開發(fā)Φ500mm×4000mm單晶旋轉(zhuǎn)靶 |
JIS H 2109(日本) | 顆粒缺陷尺寸≤0.3μm(3nm節(jié)點(diǎn)) | 寧波江豐電子通過TSMC認(rèn)證 |

7. 應(yīng)用場(chǎng)景與最新案例
領(lǐng)域 | 鍍膜功能 | 典型案例 | 技術(shù)挑戰(zhàn) |
邏輯芯片(3nm) | Cu互連阻擋層(Ti/TiN) | 臺(tái)積電N3B工藝采用原子層沉積(ALD)鈦靶,膜厚1.2nm±0.1nm | 超薄層連續(xù)性控制 |
DRAM(1β節(jié)點(diǎn)) | 電容器電極(TiN) | 三星使用高介電常數(shù)(k=80)Ti-Zr-O復(fù)合靶,容量提升40% | 晶界氧擴(kuò)散抑制 |
MicroLED | 巨量轉(zhuǎn)移接合層(Ti-W) | 京東方聯(lián)合中科院開發(fā)納米多層鈦靶(Ti/W周期5nm),熱膨脹系數(shù)匹配度>98% | 界面應(yīng)力控制 |
鈣鈦礦光伏 | 空穴傳輸層(TiOx) | 協(xié)鑫光電采用反應(yīng)濺射鈦靶,轉(zhuǎn)換效率突破26.8%(2023.6) | 氧空位精確調(diào)控 |
8. 技術(shù)代差對(duì)比(中/美/日)
指標(biāo) | 中國(guó) | 美國(guó)(Praxair) | 日本(東曹) |
最大靶材尺寸 | Φ500mm(平面) | Φ750mm(12英寸晶圓匹配) | Φ650mm(8代線OLED) |
缺陷檢測(cè)精度 | 0.1μm(光學(xué)) | 0.05μm(E-Beam) | 0.07μm(激光散射) |
晶圓級(jí)成本 | $850/片(300mm) | $620/片 | $720/片 |
研發(fā)投入占比 | 8-12% | 15-18% | 20-25% |
9. 技術(shù)挑戰(zhàn)與前沿攻關(guān)
核心痛點(diǎn):
超高純鈦(6N)氣體雜質(zhì)(H/C/O)深度脫除(需突破超導(dǎo)磁懸浮熔煉)
大尺寸靶材(>Φ600mm)晶粒取向一致性控制(EBSD在線反饋軋制)
顛覆性技術(shù):
增材制造鈦靶:冷噴涂技術(shù)制備梯度孔隙率靶材(濺射速率↑50%)
量子點(diǎn)摻雜:Ag/Ti納米復(fù)合靶(等離子體共振增強(qiáng)濺射效率)

10. 未來發(fā)展趨勢(shì)(2025-2030)
方向 | 技術(shù)路徑 | 預(yù)期效益 |
異質(zhì)集成 | Ti/Al/Cu多層復(fù)合靶(原子級(jí)界面) | 減少30%鍍膜工序 |
智能化 | 嵌入Nb-Ti超導(dǎo)傳感器的自感知靶材 | 實(shí)時(shí)監(jiān)控靶材損耗(精度±0.1mm) |
零碳制造 | 綠氫還原法制備海綿鈦(碳足跡↓90%) | 符合歐盟CBAM碳關(guān)稅要求 |
太空級(jí)應(yīng)用 | 月球原位鈦靶制造(月壤鈦鐵礦電解) | 空間站光學(xué)器件原位維修 |
11. 產(chǎn)線投資與回報(bào)分析
項(xiàng)目 | 參數(shù) | 經(jīng)濟(jì)性(萬噸級(jí)產(chǎn)能) |
建設(shè)成本 | ¥15-20億(5N級(jí)靶材線) | 投資回收期5-8年(毛利率>40%) |
關(guān)鍵技術(shù) | 電子束冷床爐(¥2.5億/臺(tái)) | 設(shè)備國(guó)產(chǎn)化可降本35% |
市場(chǎng)需求 | 2025年全球需求8.7萬噸(CAGR 12.3%) | 中國(guó)市場(chǎng)份額占比將達(dá)28% |

電子信息用鈦靶材已進(jìn)入超高純化、大尺寸化、功能復(fù)合化的新階段,成為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的核心戰(zhàn)略材料。中國(guó)在6N級(jí)提純技術(shù)與納米結(jié)構(gòu)調(diào)控領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)局部突破,但在缺陷控制精度與超大靶材制造方面仍需攻堅(jiān)。未來十年,量子點(diǎn)復(fù)合靶與太空制造技術(shù)或?qū)⒅貥?gòu)產(chǎn)業(yè)格局。
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